| 產品介紹 | XJ4810/XJ4810A型半導體管特性圖示儀采用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，并測量其靜態參數。本儀器具有二簇曲線顯示，雙向集電極掃描電路，可以對被測半導體器件的特性進行對比分析，便于對管或器件的配對。本儀器IR測量達200nA/div，配備擴展裝置后，VC可達3KV；可測試CMOS及TTL門電路傳輸特性；可對場效應管進行配對或對管測試；可測試三端穩壓管特性。 | 用于測量各種半導體管特性曲線和靜態參數的測量儀器，是便攜式圖示儀。整機采用新穎電路設計技術，具備外形輕巧，操作簡便，性能穩定可靠，性價比高的特點，能滿足大部分半導體器件的測試要求。適合工廠生產線，大專院校教學實驗和電子設備維修等領域使用。 | CRT讀出半導體管特性圖示儀用示波管顯示半導體器件的各種特性曲線，以數字字符顯示測試檔級及用光標測試被測器件的各種直流參數，從而減少了讀數誤差，提高了測量精度。本儀器室智能化的測量儀器。 | CRT讀出圖示儀，外觀新穎，技術先進，操作方便，能對各類二級管，三機管，場效應管等靜態參數測試。光標測量數字讀出給用戶帶來方便，二簇曲線顯示對器件各類參數配對尤為方便。測試大功率器件時，可采用單次方式。配3KV測試臺后Vc可達3KV。 |